摘要:
Design For testability DFT(Design for Test):可测试性设计(DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易, 这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构,例如 阅读全文
摘要:
Conflict Avoidance The 7 series FPGAs block RAM is a true dual-port RAM where both ports can access any memory location at any time. Address collision 阅读全文