当前标签：DFT

Test Compress
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fast scan arch
_9_8 2016-08-31 19:39 阅读:1 评论:0 推荐:0
fault coverage enhancement
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At_speed_test
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Logic Bist Arch
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Logic BIST
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test generation和MBIST
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Logic and Fault simulation
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scan design flow(二)
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scan design flow(一)
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scan design rules
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scan cell
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DFT basics
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测试性分析
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DFT设计绪论
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scan & ATPG
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