2019年9月7日
DFT 问答 III
摘要： 1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group（JTAG）提出的，它的初衷是为了解决在PCB上各个大规模集成电路间的信号互联测试需求，所以往往也被叫做JTAG（JTAG更是 阅读全文
posted @ 2019-09-07 11:40 春风一郎 阅读(4067) 评论(0) 推荐(0) 编辑
DFT 问答 II
摘要： 1. Boundary Scan A：Boundary scan 顾名思义，是附加在芯片I/O 周边的扫描测试链，它通过专门的测试端口(TAP)访问。在测试模式下，边界扫描链会接管功能逻辑，对I/O进行灵活访问。边界扫描链的结构，测试端口，以及其控制器(TAP Controller)，被IEEE定为 阅读全文
posted @ 2019-09-07 11:17 春风一郎 阅读(2769) 评论(0) 推荐(0) 编辑
DFT 问答 I
摘要： Q: Boundary Scan是什么？应用场景是什么？实现的方法是什么？挑战是什么？ A: Boundary Scan就是边界扫描，是由Joint Test action Group起草的规范，最初是为了解决板级芯片之间的互联测试的问题，实现方法就是在芯片内部的每个I/O上面加上一个Boundar 阅读全文
posted @ 2019-09-07 10:06 春风一郎 阅读(1656) 评论(1) 推荐(0) 编辑