摘要:
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摘要:
Design as You See FIT 作者及会议名称:DATE 2009, Daniel Holcomb, UC Berkeley 本文的重点贡献:提出了一种新方法计算时序电路发生系统级故障对输出产生影响的概率。 CFIT: 计算组合单元的故障率,结合逻辑屏蔽、时序屏蔽和电气屏蔽。组合单元对整 阅读全文