半导体测试基础
摘要:
一、基础术语 1.DUT 需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT(Device Under Test,一般就是被称为‘被测器件’) 器件引脚的常识 (1)数字电路中的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分, (2)电源脚 2.测试程序 目的:半导体测试程序的目的是控制测试系统硬件一一定的方式保证 阅读全文
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2019年8月4日 #
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