Exadata 上关于SAS盘的小秘密

案例概述

一个X3-2 的Exadata临时客户，ORACLE原厂工程师在进行onecommand初始化的过程中，执行到第6步，calibrate检测存储节点磁盘性能时报错，后续工作无法继续。而由于一些商务上的原因，原厂的硬件工程师无法提供技术支持。

客户最终找到了我们，希望我们能帮着一起分析分析，存储节点磁盘的性能是否存在问题。在问题转给我之前，客户自己也做了大量的换盘和测试工作。目前存储节点使用calibrate检测的结果正常，但插槽0 或插槽1 的MBPS偶尔比其它的磁盘低十几MB左右，但还是在可以接受的范围之内。

目前，客户主要有两个疑问，需要我进行解释：

1、测试过程中以前一些表现比较差的磁盘，为什么将这类磁盘更换到其它的存储节点后再次测试，性能又能恢复正常？

2、现在的插槽 0 或插槽 1 的磁盘MBPS偶尔比其它的磁盘低十几MB左右，是否正常？

问题分析

在分析问题之前，我让客户提供了这段时间内的测试记录，同时让客户收集了相应的一些信息。

2016-11-10 13:57:48,276 [FINE] Calibrate output...

2016-11-10 13:57:48,276 [FINE] Output from cell01 .

2016-11-10 13:57:48,276 [FINE] Calibration will take a few minutes...

2016-11-10 13:57:48,276 [FINE] Error occurred during orion execution: 10219: Error completing IO

2016-11-10 13:57:48,276 [FINE] (storax_skgfr_aiowait)

2016-11-10 13:57:48,276 [FINE] ORA-27061: waiting for async I/Os failed

2016-11-10 13:57:48,276 [FINE] Linux-x86_64 Error: 5: Input/output error

2016-11-10 13:57:48,277 [FINE] Additional information: 4294967295

2016-11-10 13:57:48,277 [FINE] Additional information: 1048576

2016-11-10 13:57:48,277 [FINE] rand_ALL0_20161110_1345

2016-11-10 13:57:48,277 [FINE] Test aborted due to errors.

2016-11-10 13:57:48,277 [FINE] ORION: ORacle IO Numbers -- Version 12.1.0.2.0

2016-11-10 13:57:48,277 [FINE] Calibration will take approximately 1 minutes.

2016-11-10 13:57:48,277 [FINE] Using a large value for -cache_size may take longer.

2016-11-10 13:57:48,277 [FINE] CELL-01524: An error occurred while running CALIBRATE tests.

以上信息是onecommand过程中报的错误，从错误日志可以看出，在调用CALIBRATE命令检测所有存储节点磁盘性能时，出现了错误。

Nov 10 13:46:13 cell01 kernel: sd 4:2:0:0: [sdq] Unhandled sense code

Nov 10 13:46:13 cell01 kernel: sd 4:2:0:0: [sdq] Result: hostbyte=invalid driverbyte=DRIVER_SENSE

Nov 10 13:46:13 cell01 kernel: sd 4:2:0:0: [sdq] Sense Key : Medium Error [current]

Nov 10 13:46:13 cell01 kernel: sd 4:2:0:0: [sdq] Add. Sense: Unrecovered read error

Nov 10 13:46:13 cell01 kernel: sd 4:2:0:0: [sdq] CDB: Read(10): 28 00 14 cd e8 00 00 08 00 00

Nov 10 13:46:13 cell01 kernel: end_request: critical target error, dev sdq, sector 349038592

以上信息是sundiag收集的日志，可以看出，存储节点cell01在访问/dev/sdq这块盘的时候出现了Medium Error。

以上图片是客户在测试过程中的截图，可以看出，MBPS为0，类似这种磁盘，需要直接更换掉。在问题转到我们这里之前，客户也已经将这种磁盘全部更换掉。 注意：客户更换的是SEAGATE ST360057SSUN600G 磁盘。而恰恰是这种磁盘，给后续的测试带来了性能问题。也即客户的问题1：为什么测试过程中以前一些表现比较差的磁盘，为什么将这类磁盘更换到其它的存储节点后再次测试，性能又能恢复原样？

客户的测试过程

11月28日晚上20:25:30开始，客户从操作系统层面直接调用CALIBRATE命令进行测试,循环执行55次。如下图，是客户截取的测试结果。

从上图可以看出，有部分磁盘的性能还是比较差的。由于这个案例是事后分析，当时的一些日志信息已经不完整，但还好CELL02节点的插槽5这块盘的日志保存完整，以下主要针对CELL02节点的插槽5这块盘进行分析：

name: 20:5

deviceId: 25

deviceName: /dev/sdv

diskType: HardDisk

enclosureDeviceId: 20

errOtherCount: 0

luns: 0_5

makeModel: "SEAGATE ST360057SSUN600G"

physicalFirmware: 0B25

physicalInsertTime: 2016-11-25T13:28:34+08:00

physicalInterface: sas

physicalSerial: E06TT6

physicalSize: 558.9120712280273G

slotNumber: 5

status: normal

以上信息可以看出，插槽5这块盘是2016-11-25 13:28:34刚刚更换后的SEAGATE的SAS硬盘。

Mon Nov 28 20:40:22 CST 2016

CELL02

######### +++++++++++++++++++++++++++++++###########

Calibration will take a few minutes...

Aggregate random read throughput across all hard disk LUNs: 1774 MBPS

Aggregate random read throughput across all flash disk LUNs: 8163 MBPS

Aggregate random read IOs per second (IOPS) across all hard disk LUNs: 4765

Aggregate random read IOs per second (IOPS) across all flash disk LUNs: 122923

Calibrating hard disks (read only) ...

LUN 0 on drive [20:0 ] random read throughput: 152.00 MBPS, and 402 IOPS

LUN 1 on drive [20:1 ] random read throughput: 152.00 MBPS, and 405 IOPS

LUN 10 on drive [20:10 ] random read throughput: 156.00 MBPS, and 406 IOPS

LUN 11 on drive [20:11 ] random read throughput: 157.00 MBPS, and 396 IOPS

LUN 0_2 on drive [20:2 ] random read throughput: 153.00 MBPS, and 400 IOPS

LUN 0_3 on drive [20:3 ] random read throughput: 155.00 MBPS, and 396 IOPS

LUN 0_4 on drive [20:4 ] random read throughput: 153.00 MBPS, and 401 IOPS

LUN 0_5 on drive [20:5 ] random read throughput: 139.00 MBPS, and 416 IOPS

LUN 0_6 on drive [20:6 ] random read throughput: 154.00 MBPS, and 395 IOPS

LUN 0_7 on drive [20:7 ] random read throughput: 156.00 MBPS, and 400 IOPS

LUN 0_8 on drive [20:8 ] random read throughput: 155.00 MBPS, and 407 IOPS

LUN 0_9 on drive [20:9 ] random read throughput: 155.00 MBPS, and 398 IOPS

Calibrating flash disks (read only, note that writes will be significantly slower) ...

LUN 1_0 on drive [FLASH_1_0] random read throughput: 543.00 MBPS, and 33629 IOPS

LUN 1_1 on drive [FLASH_1_1] random read throughput: 543.00 MBPS, and 34071 IOPS

LUN 1_2 on drive [FLASH_1_2] random read throughput: 543.00 MBPS, and 33511 IOPS

LUN 1_3 on drive [FLASH_1_3] random read throughput: 543.00 MBPS, and 33743 IOPS

LUN 2_0 on drive [FLASH_2_0] random read throughput: 544.00 MBPS, and 43067 IOPS

LUN 2_1 on drive [FLASH_2_1] random read throughput: 544.00 MBPS, and 43669 IOPS

LUN 2_2 on drive [FLASH_2_2] random read throughput: 544.00 MBPS, and 44591 IOPS

LUN 2_3 on drive [FLASH_2_3] random read throughput: 544.00 MBPS, and 43295 IOPS

LUN 4_0 on drive [FLASH_4_0] random read throughput: 542.00 MBPS, and 39627 IOPS

LUN 4_1 on drive [FLASH_4_1] random read throughput: 541.00 MBPS, and 40623 IOPS

LUN 4_2 on drive [FLASH_4_2] random read throughput: 544.00 MBPS, and 40771 IOPS

LUN 4_3 on drive [FLASH_4_3] random read throughput: 543.00 MBPS, and 40873 IOPS

LUN 5_0 on drive [FLASH_5_0] random read throughput: 543.00 MBPS, and 37453 IOPS

LUN 5_1 on drive [FLASH_5_1] random read throughput: 542.00 MBPS, and 36818 IOPS

LUN 5_2 on drive [FLASH_5_2] random read throughput: 543.00 MBPS, and 35609 IOPS

LUN 5_3 on drive [FLASH_5_3] random read throughput: 544.00 MBPS, and 33297 IOPS

Found some bad LUNs, running tests sequentially to identify the bad LUNs...

LUN 0_5 on drive [20:5 ] random read throughput: 167.00 MBPS, and 422 IOPS

CALIBRATE results are within an acceptable range.

Calibration has finished.

以上信息可以看出，在2016-11-28 20:40:22时，对CEll02存储节点的磁盘做性能测试时，发现插槽5上的磁盘性能比较低。

11月29日,客户根据28日的检测结果，对一些性能偏低的硬盘进行更换，例如：将Cell07存储节点上插槽7（没有测出性能问题日立原盘）的磁盘与Cell02存储节点上插槽5(出现性能问题的希捷硬盘)的磁盘进行互换。

更换后测试结果如下图：

我们仍然关注Cell02的插槽5(希捷硬盘)，发现它换到Cell07的插槽7后，Cell07没有出现性能问题了。同理，Cell07的插槽7（日立硬盘）更换到Cell02的插槽5后，Cell02也没有出现性能问题。

问题1的原因

通过客户的以上测试过程来分析，我们基本可以得出结论，针对Cell02的插槽5的这块希捷硬盘，这块硬盘本身是没有问题的，但在某种情况下，会引发性能问题。但是什么的条件会引发硬盘的性能低下呢？同样，满足什么样的条件，进入性能低下的硬盘又能恢复原有的性能呢？

[root@cell02 ~]# cellcli -e list metrichistory where name like CL_TEMP > Cell02_TEMP.txt

[root@cell02 ~]# more Cell02_TEMP.txt

CL_TEMP cell02 22.0 C 2016-11-28T19:00:44+08:00

CL_TEMP cell02 22.0 C 2016-11-28T19:01:44+08:00

.......(略)

CL_TEMP cell02 22.0 C 2016-12-05T19:49:03+08:00

CL_TEMP cell02 23.0 C 2016-12-05T19:50:03+08:00

[root@cell02 ~]#

[root@cell02 ~]# cat Cell02_TEMP.txt |awk '{if ($3<20.0) print $2 "||" $3 "||" $5}'

cell02||19.0||2016-11-28T20:12:44+08:00

cell02||19.0||2016-11-28T20:17:44+08:00

[root@cell02 ~]#

[root@cell02 ~]# cat Cell02_TEMP.txt |awk '{if ($3>23.0) print $2 "||" $3 "||" $5}' |more

cell02||24.0||2016-12-02T17:53:49+08:00

cell02||24.0||2016-12-02T18:24:49+08:00

cell02||24.0||2016-12-02T18:33:09+08:00

[root@cell02 ~]#

以上的日志是事后进行分析时，让客户抓取的信息，让客户抓取Cell02存储节点的温度历史信息。可以看到，由于是事后分析，只能看到2016-11-28 至2016-12-05 这部分的数据，对温度历史信息进行过滤，我们可以看到，Cell02存储节点在2016-11-28 20点12分和 20点17分这两个时间点的温度只有19度，而客户进行性能测试的时间点为20:25:30开始。

Nov 22 20:25:26 cell02 ntpd[10952]: 0.0.0.0 c016 06 restart

Nov 23 17:53:45 cell02 ntpd[13021]: 0.0.0.0 c016 06 restart

Dec 2 20:30:36 cell02 ntpd[12990]: 0.0.0.0 c016 06 restart

以上是Cell02存储节点的操作系统重启信息，可以看出，11-23 至 12-2 之间，操作系统是未重启过的。

同样，让客户抓取Cell07存储节点的温度历史信息进行分析：

[root@cell07~]# cellcli -e list metrichistory where name like CL_TEMP > Cell07_TEMP.txt

[root@cell07~]# more Cell07_TEMP.txt

CL_TEMP cell07 24.0 C 2016-11-28T19:00:16+08:00

CL_TEMP cell07 24.0 C 2016-11-28T19:01:16+08:00

......(略)

CL_TEMP cell07 23.0 C 2016-12-05T19:53:48+08:00

CL_TEMP cell07 23.0 C 2016-12-05T19:54:48+08:00

CL_TEMP cell07 23.0 C 2016-12-05T19:55:54+08:00

[root@cell07~]#

[root@cell07~]# cat Cell07_TEMP.txt |awk '{if ($3<20.0) print $2 "||" $3 "||" $5}'

[root@cell07~]#

以上的日志是Cell07存储节点的温度历史信息。可以看到2016-11-28 至2016-12-05 这部分的数据，对温度历史信息进行过滤，我们可以看到，Cell07未出现过温度低于20度的情况。

Nov 22 13:57:20 cell07ntpd[13001]: 0.0.0.0 c016 06 restart

Nov 23 17:54:02 cell07ntpd[13045]: 0.0.0.0 c016 06 restart

Nov 28 18:17:47 cell07ntpd[13029]: 0.0.0.0 c016 06 restart

Dec 2 20:35:56 cell07ntpd[12981]: 0.0.0.0 c016 06 restart

以上是Cell07存储节点的操作系统重启信息，可以看出，11-23 至 12-2 之间，操作系统是重启过多次的。

下面，我来归纳下客户所做的性能测试：

Cell02存储节点在2016-11-28 20点17分时，温度低下20摄氏度，并且操作系统未重启过，同时未出现连续30分钟以上的24度高温，客户在20点25分，开始做性能测试，此时的希捷SAS盘性能表现比较差；接着，在11-29日，这块希捷SAS磁盘换到了Cell07，由于Cell07从未出现过低于20摄氏度的情况，并且操作系统于11-28 18:17重启过，所以这块希捷SAS在CELL07上又表现良好。

结合Cell02与Cell07的历史温度信息和操作系统重启情况，正好验证了Exadata上SAS盘的一个小秘密：

Exadata上的希捷SAS硬盘，当温度低于20摄氏度时，性能会出现下降，并且这种性能下降的现象一直存在。有两种情况才能让这种希捷SAS硬盘恢复原有的性能：(1).希捷SAS的温度必须连续30分钟以上保持在24摄氏度。 (2).希捷SAS的温度在20摄氏度以上，并重启操作系统。

问题2的原因

对于问题1，前面已经进行了完整的阐述，下面来看看问题2：现在的插槽 0 或插槽 1 的MBPS偶尔比其它的磁盘低十几MB左右，是否正常？

1、批量运行CALIBRATE命令对所有存储节点硬盘整体测试

测试结果如下图：

节点名	问题类型	硬盘	性能下降次数	总次数
cell01	性能问题	插槽 0	无	50
cell01	性能问题	插槽 1	1	50
cell02	性能问题	插槽 1	1	50
cell03	性能问题	插槽 0	1	50
cell03	性能问题	插槽 1	3	50
cell04	性能问题	插槽 0	2	50
cell04	性能问题	插槽 1	1	50
cell05	性能问题	插槽 1	4	50
cell05	性能问题	插槽 0	无	50
cell06	性能问题	插槽 0	无	50
cell07	性能问题	插槽 0	2	50

从以上测试结果可以看出：插槽0和插槽1的磁盘性能下降问题是偶尔出现，同时也只是提示信息，且CALIBRATE测试结果在ORACLE的接受范围之内，并不像以前直接报ERROR错误。

2、批量运行CALIBRATE命令单独对插槽0和插槽1硬盘进行性能测试

测试结果如下图：

节点名	问题类型	硬盘	性能下降次数	总次数
cell01	性能问题	插槽0	无	50
cell01	性能问题	插槽1	无	50
cell02	性能问题	插槽0	无	50
cell02	性能问题	插槽1	无	50
cell03	性能问题	插槽0	无	50
cell03	性能问题	插槽1	无	50
cell04	性能问题	插槽0	无	50
cell04	性能问题	插槽1	无	50
cell05	性能问题	插槽1	无	50
cell05	性能问题	插槽0	无	50
cell06	性能问题	插槽1	无	50
cell06	性能问题	插槽0	无	50
cell07	性能问题	插槽0	无	50
cell07	性能问题	插槽1	无	50