摘要: 1、ODC缺陷分析：由IBM 的waston中心推出。Phontol.com将一个缺陷在生命周期的各环节的属性组织起来，从单维度、多维度来对缺陷进行分析，从不同角度得到各类缺陷的缺陷密度和缺陷比率，从而积累得到各类缺陷的基线值，用于评估测试活动、指导测试改进和整个研发流程的改进；同时根据各阶段缺陷分布得到缺陷去除过程特征模型，用于对测试活动进行评估和预测。Phontol.com上面回答中涉及到的缺...阅读全文
posted @ 2008-12-11 19:25 杨学明 阅读(1662) | 评论 (4) 编辑 |